表面粗さ測定機と輪郭形狀測定機を一體化したもので、粗さうねり評価と形狀評価を1臺で行うことができます。
測定範(fàn)囲/分解能 | Z:600μm/0.04nm |
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送り速さ | 0.05~2mm/s |
觸針 | R2μm 0.75mN以下 |
測定精度 |
Z:±(1.0+l0.04× Hl)μm以下 H:変位(mm) X:±(1.0+0.02L)μm以下 L:測定長さ(mm) |
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測定範(fàn)囲 | Z:±30mm X:100mm |
觸針 | R25μm 10~30mN |
表面粗糙度測量
它支持國家標(biāo)準。
多裁面形狀分析
強大的宏功能,“一鍵操作”方式
株式會社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年創(chuàng)立的公司,也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計,是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位。
設(shè)備特點:
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析,包括半導(dǎo)體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石(鉆石)探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。
KOSAKA小坂粗糙度儀,粗度計,粗度儀
KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機
KOSAKA小壇輪廓儀
KOSAKA小坂臺階儀,膜厚儀,薄膜測厚儀KOSAKA小坂圓度儀,真圓度儀,圓柱度儀
KOSAKA小坂測量儀配件
KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測量裝置
KOSAKA小坂微細深孔測量裝置
KOSAKA小坂晶圓檢測裝置
KOSAKA小坂關(guān)節(jié)管測量儀
KOSAKA小坂探針卡檢測設(shè)備
KOSAKA小坂高精度貼片機
KOSAKA小坂傳感器