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日立HITACHI分析儀器XRF鍍層測厚儀X-Strata920,F(xiàn)T110A,F(xiàn)T200系列,F(xiàn)T160

日立HITACHI分析儀器XRF鍍層測厚儀X-Strata920,F(xiàn)T110A,F(xiàn)T200系列,F(xiàn)T160

產(chǎn)品對比

FT160 臺式 XRF 鍍層測厚儀,旨在測量當今 PCB、半導體和微連接器上的微小部件。 準確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價高昂的返工或元件報廢。

X-Strata920

X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 鍍層測厚儀,具有多種選擇,可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的涂層,適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析。

FT110A

FT110A 是一款臺式 XRF 鍍層測厚儀,旨在應對生產(chǎn)中鍍層分析的挑戰(zhàn)。強大的 X 射線熒光技術(shù)與自動定位功能相結(jié)合,有助于提高電鍍車間的生產(chǎn)力,同時確保組件符合嚴苛標準。

FT200系列

FT200系列旨在簡化和加速零件和組件的測試,從而更輕松地在更短的時間內(nèi)測量更多零件。 FT200系列具有 Find My Part? (查找我的樣品)智能識別、自動樣品聚焦和廣角攝像頭等功能,可減少設(shè)置時間和用戶失誤操作,從而提高通量和生產(chǎn)力。 讓您的 XRF 設(shè)備幫您做決定。



FT160 系列

FT160 臺式 XRF 鍍層測厚儀,旨在測量當今 PCB、半導體和微連接器上的微小部件。 準確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價高昂的返工或元件報廢。

X-Strata920
  • 正比計數(shù)器或高分辨率 SDD
  • 元素范圍:鈦 - 鈾,或鋁 - 鈾(SDD)
  • 樣品艙設(shè)計:開槽式
  • XY 軸樣品臺選擇: 固定臺、加深臺、自動臺
  • *大樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米
  • *大數(shù)量準直器:6
  • 濾光片:1
  • 可選*小準直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
  • SmartLink 軟件
了解更多
FT110A
  • 正比計數(shù)器系統(tǒng)
  • 元素范圍:鈦 - 鈾
  • 樣品艙設(shè)計:開閉式或開槽式
  • XY 軸樣品臺選擇: 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺
  • *大樣品尺寸:500 x 400 x 150 毫米
  • *大數(shù)量準直器:4
  • 濾光片:初級 1,二級(可選)1
  • 可選*小準直器:0.05 毫米
  • X-ray Station 軟件
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FT200系列
  • 高分辨率 SDD或正比計數(shù)器
  • 元素范圍:鈦 - 鈾,或鋁 - 鈾(SDD)
  • 樣品艙設(shè)計:開閉式或開槽式
  • XY 軸樣品臺選擇: 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺
  • *大樣品尺寸:500 x 400 x 150 毫米
  • *大數(shù)量準直器:4
  • 濾光片:初級 5 (2x Al, Ti, Mo, Ni) ,以及1個空位
  • 可選*小準直器:0.01 x 0.25 mm
  • FT Connect 軟件
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FT160
  • 高分辨率 SDD
  • 元素范圍: 鋁 - 鈾
  • 樣品艙設(shè)計:開閉式
  • XY 軸樣品臺選擇:自動臺、晶片樣品臺
  • *大樣品尺寸:600 x 600 x 20 毫米
  • 濾光片:5
  • 毛細管聚焦光斑尺寸< 30μm
  • XRF Controller 軟件